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產品列表PRODUCTS LIST

  • IM7587阻抗分析儀產品概述 可信賴的高端機型3GHz ●測試電壓測量頻率:1MHz~3GHz ●測量時間:較快0.5ms(模擬測量時間) ●測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值) ●基本精度:±0.65%rdg. ●緊湊主機僅機架一半大小,測試頭尺寸僅手掌大小 ●豐富的接觸檢查(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) ●分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊

  • IM7585阻抗分析儀產品概述 高速、高穩定性測量,提高生產量!測量時間:較快0.5ms,測量值偏差0.07% ●測量頻率:1MHz~1.3GHz ●測量時間:較快0.5ms(模擬測量時間) ●測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值) ●基本精度:±0.65%rdg. ●緊湊主機僅機架一半大小,測試頭僅手掌大小 ●豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)

  • IM7583阻抗分析儀產品概述 高速、高穩定性測量,提高生產量!測量時間:較快0.5ms ●測量頻率:1MHz~600MHz ●測量時間:較快0.5ms(模擬測量時間) ●基本精度:±0.65%rdg. ●緊湊主機僅機架一半大小,測試頭僅手掌大小 ●豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) ●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

  • IM7581阻抗分析儀產品概述 較快0.5ms,覆蓋100kHz~300MHz的低頻 ●緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ●豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) ●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

  • IM7580A阻抗分析儀產品概述 較快0.5ms,高速、高穩定測量,節省空間的半個機架大小 ●測量頻率1MHz~300MHz ●測量時間:較快0.5ms ●基本精度±0.72%rdg. ●緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ●豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) ●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

  • IM3590化學阻抗分析儀產品概述 用于測量電氣化學零件和材料/電池/EDLC(電氣雙層電容) ●適用于離子運動和溶液電阻測量,1mHz~200kHz的寬范圍信號源 ●1臺機器即可實現LCR測量、掃描測量的連續測量和高速檢查 ●可測量電池的無負載狀態產生的內部電阻 ●較快2ms的高速測量,實現掃描測量的高速化 ●基本精度±0.05%,零件檢查到研究開發測量均可對應

  • IM3570阻抗分析儀產品概述 1臺儀器實現不同測量條件下的高速檢查 ●1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查 ●LCR模式下較快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量 ●基本精度±0.08%的高精度測量 ●適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量

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